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突破110GHz帶寬極限!中科院微系統(tǒng)所TFLN-SiN異質(zhì)集成鍵合工藝最新進(jìn)展與應(yīng)用前景

2025-07-03



在高速光通信與硅基光電子集成領(lǐng)域,薄膜鈮酸鋰(TFLN)因其優(yōu)異的電光特性被視為實(shí)現(xiàn)超高帶寬、低功耗光器件的關(guān)鍵材料。如何將TFLN與傳統(tǒng)硅光平臺(tái)(如氮化硅SiN)高效集成,成為當(dāng)前研發(fā)熱點(diǎn)。中科院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所(以下簡(jiǎn)稱“微系統(tǒng)所”)在TFLN-SiN鍵合工藝領(lǐng)域取得顯著突破,成功研制出帶寬超過110GHz的高性能光調(diào)制器。本文將詳細(xì)介紹這一創(chuàng)新的異質(zhì)集成鍵合工藝及其卓越性能,展望其在下一代高速光通信與光互連技術(shù)中的應(yīng)用潛力。



一、 技術(shù)路線:TFLN-SiN異質(zhì)集成 vs. 混合集成

當(dāng)前主要的TFLN-SiN集成方案可分為兩類:


1. 混合集成(如九峰山、海思等方案):

·         對(duì)氮化硅(SiN)和鈮酸鋰薄膜(TFLN)均進(jìn)行刻蝕。

·         二者各自形成獨(dú)立的波導(dǎo)結(jié)構(gòu)。

·         通過倏逝波耦合實(shí)現(xiàn)光場(chǎng)連接。工藝相對(duì)復(fù)雜。


2. 微系統(tǒng)所方案:異質(zhì)集成鍵合(核心創(chuàng)新)

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【微系統(tǒng)所TFLN-SiN異質(zhì)集成波導(dǎo)結(jié)構(gòu)示意圖】

·         核心特點(diǎn): 采用獨(dú)特的鍵合工藝,在完成SiN波導(dǎo)制作并平坦化后,直接鍵合整片TFLN薄膜層。最終形成的波導(dǎo)是SiN和TFLN共同構(gòu)成的異質(zhì)結(jié)構(gòu)。

·         優(yōu)勢(shì): 工藝步驟相對(duì)簡(jiǎn)化(免去TFLN刻蝕),可能帶來更優(yōu)的光場(chǎng)限制和耦合效率。




二、 微系統(tǒng)所TFLN-SiN鍵合工藝詳解

該工藝在標(biāo)準(zhǔn)硅光工藝平臺(tái)上擴(kuò)展,關(guān)鍵步驟及參數(shù)如下:


1. 基底準(zhǔn)備:

·         使用硅襯底,通過熱氧化形成二氧化硅(BOX)層,構(gòu)成SOI襯底。

·         采用PECVD方法沉積氮化硅(SiN)層。文獻(xiàn)報(bào)道其厚度有180nm或400nm版本,此處以公開論文的180nm為例。


2. SiN波導(dǎo)制作與平坦化(關(guān)鍵步驟):

·         對(duì)SiN層進(jìn)行光刻和刻蝕,形成所需的SiN波導(dǎo)圖形

·         在刻蝕后的SiN波導(dǎo)上覆蓋氧化硅層。

·         關(guān)鍵工藝: 對(duì)覆蓋的氧化硅層進(jìn)行精密平坦化(研磨)。這一步的平整度至關(guān)重要,直接決定了后續(xù)鍵合時(shí)TFLN層與SiN波導(dǎo)之間的間隙厚度和均勻性。晶正電子轉(zhuǎn)讓給華為的專利也旨在精確控制此間隙。

·         平整后的氧化硅層表面將作為與TFLN鍵合的界面。

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[圖示2:SiN波導(dǎo)刻蝕后狀態(tài)示意圖]


3. TFLN薄膜轉(zhuǎn)移與鍵合:

·         將高品質(zhì)的薄膜鈮酸鋰(TFLN)晶圓(通常為供貨態(tài))與完成平坦化的SiN晶圓進(jìn)行鍵合。

·         鍵合層材料: 微系統(tǒng)所選用氧化硅作為鍵合介質(zhì)。相比另一種常用材料BCB(苯并環(huán)丁烯,高分子聚合物膠):

·         氧化硅優(yōu)勢(shì): 耐高溫、長(zhǎng)期可靠性高(尤其適用于商用產(chǎn)品)、工藝兼容性好。

·         BCB劣勢(shì): 可靠性較差(老化、熱穩(wěn)定性等問題)。

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4. TFLN薄膜剝離與后道工藝:

·         關(guān)鍵技術(shù):“離子刀”剝離。

·         使用氦離子(He+)注入到供體鈮酸鋰晶圓中(在鍵合界面下方特定深度形成損傷層)。

加熱處理,使損傷層汽化,從而實(shí)現(xiàn)鈮酸鋰薄膜(目標(biāo)厚度約400nm)的剝離,最終在鍵合晶圓上獲得所需的TFLN薄膜層。剩余供體晶圓可重復(fù)使用。

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·         器件完成:

·         沉積上包層(通常為氧化硅)保護(hù)波導(dǎo)。

·         沉積金屬層(用于調(diào)制電極等),并進(jìn)行圖形化。

·         電極材料選擇: 金(性能最佳,成本高)、銅(折中)、鋁(成本低,易刻蝕,電阻率等電學(xué)性能相對(duì)較差)。

·         微系統(tǒng)所選擇: 基于成本和工藝集成度考慮,采用硅光平臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)的鋁(Al)工藝制作調(diào)制電極。

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三、突破性性能:110GHz帶寬與低VπL

微系統(tǒng)所基于此TFLN-SiN異質(zhì)集成鍵合工藝制作的光調(diào)制器取得了令人矚目的性能:

  • 調(diào)制器長(zhǎng)度: 5mm

  • 帶寬: > 110GHz (實(shí)測(cè)超過110GHz)

  • 半波電壓(Vπ)與VπL積(關(guān)鍵效率指標(biāo)):

    • O波段: Vπ = 4.3V, VπL = 2.15 V·cm (極低,優(yōu)于傳統(tǒng)方案)

    • C波段: Vπ = 5.5V VπL = 2.75 V·cm (同樣表現(xiàn)出色)

  • 傳輸性能:

    • 成功演示了260 Gbps PAM4 信號(hào)調(diào)制。

    • 展現(xiàn)了180 GBd(千兆波特) 級(jí)的超高符號(hào)率傳輸能力,展現(xiàn)了其在超高速通信中的巨大潛力。


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中科院微系統(tǒng)所開發(fā)的TFLN-SiN異質(zhì)集成鍵合工藝代表了硅基光電子集成技術(shù)的重要突破。

其特點(diǎn)在于:

1. 創(chuàng)新結(jié)構(gòu): 采用氧化硅鍵合/平坦化層的異質(zhì)集成方案,簡(jiǎn)化工藝并提升可靠性。

2. 核心工藝成熟: 掌握了SiN波導(dǎo)精密平坦化和大面積高質(zhì)量TFLN鍵合與剝離等關(guān)鍵技術(shù)。

3. 卓越性能: 實(shí)現(xiàn)了超過110GHz的帶寬低至2.15 V·cm (O波段)的VπL積,滿足下一代800G、1.6T及更高速光互聯(lián)對(duì)調(diào)制器核心性能的苛刻要求。

4. 兼容性與可靠性: 基于硅光平臺(tái)開發(fā),采用耐高溫的氧化硅鍵合材料,具有商業(yè)化應(yīng)用潛力。


應(yīng)用前景: 這項(xiàng)技術(shù)不僅為研制超高速、低功耗的下一代光通信核心器件(如相干光模塊中的IQ調(diào)制器)提供了強(qiáng)大支撐,其展現(xiàn)的高性能光波導(dǎo)操控能力,也為未來高速光開關(guān)、可編程光子集成電路(PIC) 等更復(fù)雜光子器件的發(fā)展開辟了新路徑。

廣西科毅光通信科技有限公司 (www.www.czflyt.com) 作為專注于光通信器件研發(fā)與制造的企業(yè),將持續(xù)關(guān)注此類前沿集成工藝的發(fā)展,致力于將最先進(jìn)的技術(shù)轉(zhuǎn)化為滿足市場(chǎng)需求的高性能光開關(guān)、光模塊等產(chǎn)品,賦能數(shù)據(jù)中心、5G/6G及未來光網(wǎng)絡(luò)建設(shè)。